High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

Podrobná bibliografie
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
Hlavní autor: Purgin A.
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Další autoři: Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
Shrnutí:Заглавие с экрана
This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
Jazyk:angličtina
Vydáno: 2014
Témata:
On-line přístup:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
Médium: MixedMaterials Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953