High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

Detalles Bibliográficos
Parent link:	Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
Autor Principal:	Purgin A.
Autor Corporativo:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Outros autores:	Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
Summary:	Заглавие с экрана This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
Idioma:	inglés
Publicado:	2014
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ микропроцессорные системы вихревые токи дефектоскопы сигналы данные сбор данных обработка
Acceso en liña:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
Formato:	Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953

Internet