High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии
| Parent link: | Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223] |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחבר תאגידי: | |
| מחברים אחרים: | |
| סיכום: | Заглавие с экрана This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested. |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
2014
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf |
| פורמט: | אלקטרוני Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 613953 | ||
| 005 | 20260526133620.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\conf\12111 | ||
| 035 | |a RU\TPU\conf\12105 | ||
| 090 | |a 613953 | ||
| 100 | |a 20150904d2014 k y0rusy50 ba | ||
| 101 | 0 | |a eng | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drgn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing |f A. Purgin |g sci. adv. E. V. Yakimov | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 215 | |a 1 файл (310 Кб) | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [References: p. 223 (3 tit.)] | ||
| 330 | |a This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\11900 |t Информационно-измерительная техника и технологии |o материалы V научно-практической конференции, Томск, 19-23 мая 2014 г. |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. А. В. Юрченко |v [P. 220-223] |d 2014 | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a микропроцессорные системы | |
| 610 | 1 | |a вихревые токи | |
| 610 | 1 | |a дефектоскопы | |
| 610 | 1 | |a сигналы | |
| 610 | 1 | |a данные | |
| 610 | 1 | |a сбор данных | |
| 610 | 1 | |a обработка | |
| 700 | 1 | |a Purgin |b A. | |
| 702 | 1 | |a Yakimov |b E. V. |c specialist in the field of control and measurement equipment |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences |f 1975- |g Evgeny Valeryevich |4 727 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Институт неразрушающего контроля (ИНК) |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 |
| 801 | 1 | |a RU |b 63413507 |c 20101016 | |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20210514 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367 | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf | |
| 942 | |c BK | ||