High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:	Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
Egile nagusia:	Purgin A.
Erakunde egilea:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Beste egile batzuk:	Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
Gaia:	Заглавие с экрана This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
Hizkuntza:	ingelesa
Argitaratua:	2014
Gaiak:	электронный ресурс труды учёных ТПУ микропроцессорные системы вихревые токи дефектоскопы сигналы данные сбор данных обработка
Sarrera elektronikoa:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
Formatua:	Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953

Deskribapena
Deskribapen fisikoa:	1 файл (310 Кб)
Gaia:	Заглавие с экрана This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.

Antzeko izenburuak