Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий

Dettagli Bibliografici
Parent link:Теплофизические основы энергетических технологий.— 2014.— [С. 258-262]
Autore principale: Курмангалиев Р. Х.
Ente Autore: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)
Altri autori: Кравченко Е. В. Евгений Владимирович
Riassunto:Заглавие с экрана
Lingua:russo
Pubblicazione: 2014
Soggetti:
Accesso online:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C02/052.pdf
Natura: Elettronico Capitolo di libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613847

Documenti analoghi