Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении

Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении

Bibliographic Details
Parent link:	Теплофизические основы энергетических технологий: сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск/ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН) ; под ред. Г. В. Кузнецова [и др.]. [С. 258-262].— , 2014
Main Author:	Курмангалиев Р. Х.
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)
Other Authors:	Кравченко Е. В. Евгений Владимирович
Summary:	Заглавие с экрана
Published:	2014
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ показатели надежность диоды силовые полупроводниковые диоды силовые полупроводниковые приборы числовое моделирование
Online Access:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C02/052.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613847

Internet

http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C02/052.pdf