Курмангалиев Р. Х. & Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. (2014). Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014.
Chicago Style (17th ed.) CitationКурмангалиев Р. Х. and Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014, 2014.
ציטוט MLAКурмангалиев Р. Х. and Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014, 2014.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.