Курмангалиев Р. Х. & Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. (2014). Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014.
Cita Chicago Style (17a ed.)Курмангалиев Р. Х. y Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014, 2014.
Cita MLA (9a ed.)Курмангалиев Р. Х. y Кравченко Е. В. Евгений Владимирович. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении; Теплофизические основы энергетических технологий. 2014, 2014.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.