Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути; Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине
| Parent link: | Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине.— 2015.— [С. 209-210] |
|---|---|
| Autore principale: | |
| Ente Autore: | |
| Riassunto: | Заглавие с титульного экрана In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed. |
| Lingua: | russo |
| Pubblicazione: |
2015
|
| Serie: | Информационные системы и технологии |
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C24/092.pdf |
| Natura: | Elettronico Capitolo di libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613802 |