Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути
| Parent link: | Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине: сборник научных трудов II Международной конференции, 19-22 мая 2015 г., Томск/ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; ред. кол. О. Г. Берестнева [и др.]. [С. 209-210].— , 2015 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Summary: | Заглавие с титульного экрана In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed. |
| Published: |
2015
|
| Series: | Информационные системы и технологии |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C24/092.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613802 |