Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути; Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине.— 2015.— [С. 209-210]
1. Verfasser: Селиванов П. Е.
Körperschaft: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Zusammenfassung:Заглавие с титульного экрана
In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed.
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2015
Schriftenreihe:Информационные системы и технологии
Schlagworte:
Online-Zugang:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C24/092.pdf
Format: Elektronisch Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613802

Ähnliche Einträge