Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути; Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине

Бібліографічні деталі
Parent link:	Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине.— 2015.— [С. 209-210]
Автор:	Селиванов П. Е.
Співавтор:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Резюме:	Заглавие с титульного экрана In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed.
Мова:	Російська
Опубліковано:	2015
Серія:	Информационные системы и технологии
Предмети:	труды учёных ТПУ электронный ресурс тестирование комбинационные схемы проектирование цифровые устройства логические схемы
Онлайн доступ:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C24/092.pdf
Формат:	Електронний ресурс Частина з книги
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613802

Інтернет