Пустовалова А. А. Алла Александровна, Иванова Н. М. Нина Михайловна, & Пичугин В. Ф. Владимир Федорович. (2015). Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques; Перспективы развития фундаментальных наук. 2015.
Chicago Style (17th ed.) CitationПустовалова А. А. Алла Александровна, Иванова Н. М. Нина Михайловна, and Пичугин В. Ф. Владимир Федорович. Characterization of Nitrogen-containing Titanium Dioxide Thin Films by X-ray Diffraction and IR Spectroscopy Techniques; Перспективы развития фундаментальных наук. 2015, 2015.
MLA (9th ed.) CitationПустовалова А. А. Алла Александровна, et al. Characterization of Nitrogen-containing Titanium Dioxide Thin Films by X-ray Diffraction and IR Spectroscopy Techniques; Перспективы развития фундаментальных наук. 2015, 2015.