$Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques; Перспективы развития фундаментальных наук$

Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques; Перспективы развития фундаментальных наук

Podrobná bibliografie
Parent link:	Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 1079-1081]
Hlavní autor:	Пустовалова А. А. Алла Александровна
Korporativní autor:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра теоретической и экспериментальной физики (ТиЭФ)
Další autoři:	Иванова Н. М. Нина Михайловна (научный руководитель), Пичугин В. Ф. Владимир Федорович
Shrnutí:	Заглавие с экрана В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии.
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	2015
Edice:	Наноматериалы и нанотехнологии
Témata:	электронный ресурс труды учёных ТПУ тонкие пленки диоксид титана рентгеновская дифракция ИК-спектроскопия
On-line přístup:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/343.pdf
Médium:	Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613177

Internet

http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/343.pdf