Setup for characterization of indirect converting X-Ray detectors

Bibliographic Details
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 193-195].— , 2015
Main Author: Оздиев А. Х. Али Хосенович
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра электроники и автоматики физических установок (№ 24) (ЭАФУ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Other Authors: Карпов Д. А. Дмитрий Андреевич (727), Крючков Ю. Ю. Юрий Юрьевич
Summary:Заглавие с экрана
Современные источники рентгеновского излучения позволяют изучение динамических процессов в таких областях как биология, медицина, материаловедение и тд. Точность процесса измерения напрямую зависит от возможностей системы детектирования. Быстродействующие цифровые камеры являются ключевыми элементами непрямой системы детектирования. Данные камеры обладают набором параметров влияющих на качество получаемых данных. Два основных типа быстродействующих камер, используемых в системах непрямого детектирования, отличаются только архитектурой сенсора: ПЗС и КМОП сенсоры. В настоящей работе мы представляем установку для получения характеристик данных сенсоров Visible Light Setup (VLS), разработанную в Институте Синхротронного Излучения Технологического Института Карлсруэ. Собранная установка позволяет проводить оценку таких характеристик камер, как: неоднородности сенсора, дефектные пиксели, линейность, шумовые характеристики, спектральная чувствительность и тд. Результаты работы позволяют точную оценку параметров камеры непосредственно перед проведением эксперимента на станциях синхротронного излучения благодаря дополнительно произведенной автоматизации процесса оценки и обработки данных.
Published: 2015
Series:Физика
Subjects:
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19144
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/054.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612956