Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции; Перспективы развития фундаментальных наук

Detalles Bibliográficos
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 109-111]
Autor principal: Завазиева Д. Т.
Autor Corporativo: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Otros Autores: Сыртанов М. С. Максим Сергеевич (научный руководитель)
Sumario:Заглавие с экрана
In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
Lenguaje:ruso
Publicado: 2015
Colección:Физика
Materias:
Acceso en línea:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf
Formato: Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934

Ejemplares similares