Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции; Перспективы развития фундаментальных наук

Chi tiết về thư mục
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 109-111]
Tác giả chính: Завазиева Д. Т.
Tác giả của công ty: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Tác giả khác: Сыртанов М. С. Максим Сергеевич (научный руководитель)
Tóm tắt:Заглавие с экрана
In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
Ngôn ngữ:Tiếng Nga
Được phát hành: 2015
Loạt:Физика
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf
Định dạng: Điện tử Chương của sách
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934

Những quyển sách tương tự