Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции; Перспективы развития фундаментальных наук

Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции; Перспективы развития фундаментальных наук

التفاصيل البيبلوغرافية
Parent link:	Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 109-111]
المؤلف الرئيسي:	Завазиева Д. Т.
مؤلف مشترك:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
مؤلفون آخرون:	Сыртанов М. С. Максим Сергеевич (научный руководитель)
الملخص:	Заглавие с экрана In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
اللغة:	الروسية
منشور في:	2015
سلاسل:	Физика
الموضوعات:	электронный ресурс труды учёных ТПУ толщина покрытия никель рентгеновская дифракция
الوصول للمادة أونلاين:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf
التنسيق:	الكتروني فصل الكتاب
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934

مواد مشابهة

Оценка толщины лакокрасочного покрытия; Радио; № 2
حسب: Бельский А.
منشور في: (2002)

Применение методов рентгеновской дифракции для исследования структуры микрокластеров в конденсированных средах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
حسب: Додонов В. Г. Вадим Георгиевич
منشور في: (Кемерово, [Б. и.], 2000)

Особенности рентгеновской абсорбционной плотнометрии крупногабаритных объектов с переменной толщиной; Информационные технологии неразрушающего контроля
منشور في: (2015)

Multilayer chromium nitride/carbon coatings deposited by magnetron sputtering; Gas Discharge Plasmas and Their Applications (GDP 2019)
حسب: Sidelev D. V. Dmitry Vladimirovich
منشور في: (2019)

Вихретоковый метод одночастотного измерения толщины электропроводящей пластины и толщины ее непроводящего покрытия; Космическое приборостроение
حسب: Неруш М. Н.
منشور في: (2014)

Электромагнитный преобразователь для одновременного контроля толщины маталла и намагнитного покрытия; Дефектоскопия; № 8
حسب: Шукевич А. К.
منشور في: (2005)

Контроль толщины и целостности остеклованного внутритрубного покрытия трубопровода; Электронные приборы, системы и технологии
حسب: Потапенко А. А.
منشور في: (2012)

Микропроцессорный измеритель толщины гальванического покрытия меди на стали Х18Н10Т; Современные техника и технологии; Т. 1.
حسب: Нестеров А. М.
منشور في: (2003)

Способ контроля толщины покрытий
منشور في: ()

Альбедный динамический контроль толщины покрытий электронами высокой энергии; Контроль толщины покрытий и его метрологическое обеспечение
حسب: Кононов Б. А. Борис Александрович
منشور في: (1979)

Microstructure Characterization of Multilayer Thin Coatings ZrN/Si3N4 by X-Ray Diffraction Using Noncoplanar Measurement Geometry; Physica Status Solidi A; Vol. 215, iss. 5
منشور في: (2018)

Влияние толщины покрытия на механические свойства и характер разрушения композиции сталь 65Г - азотистое покрытие при растяжении; Новые материалы. Создание, структура, свойства - 2013
حسب: Боброва Т. В.
منشور في: (2013)

Способ контроля толщины покрытий
حسب: Сорокин В. Б. Владимир Борисович
منشور في: ()

Меры толщины покрытий и их измерение способом совмещения профилограм; Измерительная техника; № 4
حسب: Бабаджанов Л. С.
منشور في: (2003)

Контроль толщины карбидокремниевого покрытия на углерод-углеродной подложке; Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее; Ч. 1
حسب: Цырендоржиева Д. Д.
منشور في: (2013)

Контроль толщины карбидокремниевого покрытия на углерод-углеродной подложке; Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее; Ч. 1
حسب: Цырендоржиева Д. Д.
منشور في: (2014)

Плотнометрический альбедный метод контроля покрытий моноэнергетическими электронами; Контроль толщины покрытий и его метрологическое обеспечение
حسب: Сорокин В. Б. Владимир Борисович
منشور في: (1979)

Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques; Перспективы развития фундаментальных наук
حسب: Пустовалова А. А. Алла Александровна
منشور في: (2015)

Физика дифракции: пер. с англ.
حسب: Каули Дж. Джон
منشور في: (Москва, Мир, 1979)

Разработка геометрии контроля толщины покрытий; Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее; Ч. 1
حسب: Секерина Е. Г.
منشور في: (2013)

Влияние количества и толщины слоев в многослойных покрытиях Ti-Al-Ta-N/Ti-Al-N на их механические и трибологические характеристики; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
حسب: Кузьминов Е. Д.
منشور في: (2021)

Оценка точности геометрических измерений сферических объектов методом рентгеновской томографии; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
حسب: Цзи Линьюэ
منشور في: (2024)

Получение нового TI-35Nb-7Zr-5Ta сплава методом электронно-лучевого плавления для медицинского применения; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
حسب: Мишукова О. И. Оксана Игоревна
منشور في: (2019)

Расчетное определение толщины оболочки судового кабеля; Бутаковские чтения
حسب: Жульмина М. Д.
منشور في: (2024)

Оценка возможностей метода двухэнергетической рентгеновской абсорбциометрии для измерения плотности пульп; Перспективы развития фундаментальных наук
حسب: Цзан Хунжань
منشور في: (2015)

Разработка метода толщинометрии кремниевого покрытия; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
حسب: Ловицкий А. А.
منشور في: (2015)

The Possibility of Boron Carbide Coating Formation by Using a Coaxial Magnetoplasma Accelerator; Applied Mechanics and Materials; Vol. 1097 : Nanomaterials and Surface Technologies, Materials Applications
حسب: Sivkov A. A. Aleksandr Anatolyevich
منشور في: (2015)

Phase Transformations in Nanostructured Coatings Based on Zr-Y-O and Produced by a Pulse Magnetron Sputtering Method; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
حسب: Fedorishcheva M. V. Marina Vladimirovna
منشور في: (2015)

Теория дифракции. Электроника СВЧ
حسب: Вайнштейн Л. А. Лев Альбертович
منشور في: (Москва, Радио и связь, 1995)

Основы теории дифракции
حسب: Ваганов Р. Б.
منشور في: (Москва, Наука, 1982)

Радиоизотопный измеритель толщины карбидокремниевых покрытий; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
حسب: Горохов Р. Е.
منشور في: (2014)

Государственная поверочная схема для средств измерений толщины особо тонких покрытий в диапазоне 2-1000 нм; Рекомендация. МИ 1950-88
منشور في: (Москва, Изд-во стандартов, 1989)

Оптимизация слоя серебра по толщине в низкоэмиссионном покрытии на полимерной пленке; Перспективы развития фундаментальных наук
حسب: Гренадёров А. С.
منشور في: (2012)

Методика определения номинальной толщины защитного покрытия от брызг расплавленного металла при изготовлении горно-шахтного оборудования сваркой в углекислом газе; Прогрессивные технологии и экономика в машиностроении; Т. 1
منشور في: (2004)

Revealing misfit dislocations in InAs x P1−x -InP core-shell nanowires by x-ray diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, iss. 50
منشور في: (2019)

Изменение прочностных характеристик сварных соединений, выполненных с применением защитных покрытий в зависимости от их толщины; Прогрессивные технологии и экономика в машиностроении; Т. 1
حسب: Харламова Е. В.
منشور في: (2004)

Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий. Теория и практика
حسب: Бабаджанов Л. С. Леон Сергеевич
منشور في: (Москва, Изд-во стандартов, 2004)

Определение оптимальной толщины стенки нефтегазотрубопровода; Проблемы геологии и освоения недр
حسب: Сваровская М. Г.
منشور في: (2005)

Рентгеновский анализ текстуры в объектах разной толщины; Измерительная техника; № 2
حسب: Колеров О. К.
منشور في: (2003)

Влияние толщины прозрачных покрытий на основе AL-SI-N на механические свойства поверхностного слоя стекла; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
منشور في: (2015)