Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции; Перспективы развития фундаментальных наук

Bibliographic Details
Parent link:	Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 109-111]
Main Author:	Завазиева Д. Т.
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Other Authors:	Сыртанов М. С. Максим Сергеевич (научный руководитель)
Summary:	Заглавие с экрана In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
Language:	Russian
Published:	2015
Series:	Физика
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ толщина покрытия никель рентгеновская дифракция
Online Access:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934

Internet