Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции
| Parent link: | Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 109-111].— , 2015 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | |
| Summary: | Заглавие с экрана In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film. |
| Published: |
2015
|
| Series: | Физика |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934 |