Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции

Bibliographic Details
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 109-111].— , 2015
Main Author: Завазиева Д. Т.
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Other Authors: Сыртанов М. С. Максим Сергеевич (727)
Summary:Заглавие с экрана
In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
Language:Russian
Published: 2015
Series:Физика
Subjects:
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612934

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 612934
005 20240125104359.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\11065 
035 |a RU\TPU\conf\11060 
090 |a 612934 
100 |a 20150701d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции  |d Determination of thenickel coating thickness by X-Ray method  |f Д. Т. Завазиева, М. С. Сыртанов  |g науч. рук. М. С. Сыртанов 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(206 Кб) 
225 1 |a Физика 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 111 (3 назв.)] 
330 |a In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film. 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\10376  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова  |v [С. 109-111]  |d 2015 
510 1 |a Determination of thenickel coating thickness by X-Ray method  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a толщина 
610 1 |a покрытия 
610 1 |a никель 
610 1 |a рентгеновская дифракция 
700 1 |a Завазиева  |b Д. Т. 
701 1 |a Сыртанов  |b М. С.  |c физик  |c доцент, научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук  |f 1990-  |g Максим Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34762  |9 18112 
702 1 |a Сыртанов  |b М. С.  |c физик  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Максим Сергеевич  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра общей физики (ОФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18734 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210128  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf 
942 |c BK