Контроль дефектности по параметрам электромагнитного отклика при импульсном механическом возбуждении образца; Перспективы развития фундаментальных наук

Bibliografiske detaljer
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2014.— [С. 689-691]
Hovedforfatter: Хорсов П. Н. Петр Николаевич
Institution som forfatter: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Andre forfattere: Суржиков А. П. Анатолий Петрович (научный руководитель)
Summary:Заглавие с экрана
In this paper, the influence of electromagnetic emission response of the sample was research using the apparatus of multiple excitation of the sample by forming a random component dataset responses. It was shown that the standard deviations of random components, including electromagnetic emissions, are acceptable characteristic for assessing the deflected mode of solid dielectrics.
Sprog:russisk
Udgivet: 2014
Serier:Математика
Fag:
Online adgang:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C21/231.pdf
Format: Electronisk Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=606977

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 606977
005 20260311143249.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\4356 
035 |a RU\TPU\conf\4303 
090 |a 606977 
100 |a 20140623d2014 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Контроль дефектности по параметрам электромагнитного отклика при импульсном механическом возбуждении образца  |d Control of defects on the parameters of the electromagnetic response under pulsed mechanical excitation of the sample  |f П. Н. Хорсов, А. П. Суржиков  |g науч. рук. А. П. Суржиков 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(361 Кб) 
225 1 |a Математика 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 691 (2 назв.)] 
330 |a In this paper, the influence of electromagnetic emission response of the sample was research using the apparatus of multiple excitation of the sample by forming a random component dataset responses. It was shown that the standard deviations of random components, including electromagnetic emissions, are acceptable characteristic for assessing the deflected mode of solid dielectrics. 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\3586  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XI Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 22-25 апреля 2014 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. Е. А. Вайтулевич  |v [С. 689-691]  |d 2014 
510 1 |a Control of defects on the parameters of the electromagnetic response under pulsed mechanical excitation of the sample  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a контроль 
610 1 |a дефектность 
610 1 |a параметры 
610 1 |a электромагнитные отклики 
610 1 |a импульсное возбуждение 
610 1 |a механическое возбуждение 
610 1 |a образцы 
700 1 |a Хорсов  |b П. Н.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c аспирант Томского политехнического университета  |f 1986-  |g Петр Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29652 
701 1 |a Суржиков  |b А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1951-  |g Анатолий Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\22010  |9 9307 
702 1 |a Суржиков  |b А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1951-  |g Анатолий Петрович  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20140627  |g RCR 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C21/231.pdf 
942 |c CF