Контроль дефектности по параметрам электромагнитного отклика при импульсном механическом возбуждении образца
| Parent link: | Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XI Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 22-25 апреля 2014 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. Е. А. Вайтулевич. [С. 689-691].— , 2014 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | |
| Summary: | Заглавие с экрана In this paper, the influence of electromagnetic emission response of the sample was research using the apparatus of multiple excitation of the sample by forming a random component dataset responses. It was shown that the standard deviations of random components, including electromagnetic emissions, are acceptable characteristic for assessing the deflected mode of solid dielectrics. |
| Published: |
2014
|
| Series: | Математика |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C21/231.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=606977 |