Контроль дефектности по параметрам электромагнитного отклика при импульсном механическом возбуждении образца; Перспективы развития фундаментальных наук

Контроль дефектности по параметрам электромагнитного отклика при импульсном механическом возбуждении образца; Перспективы развития фундаментальных наук

Chi tiết về thư mục
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2014.— [С. 689-691]
Tác giả chính: Хорсов П. Н. Петр Николаевич
Tác giả của công ty: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Tác giả khác: Суржиков А. П. Анатолий Петрович (научный руководитель)
Tóm tắt:Заглавие с экрана
In this paper, the influence of electromagnetic emission response of the sample was research using the apparatus of multiple excitation of the sample by forming a random component dataset responses. It was shown that the standard deviations of random components, including electromagnetic emissions, are acceptable characteristic for assessing the deflected mode of solid dielectrics.
Ngôn ngữ:Tiếng Nga
Được phát hành: 2014
Loạt:Математика
Những chủ đề:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
контроль
дефектность
параметры
электромагнитные отклики
импульсное возбуждение
механическое возбуждение
образцы
Truy cập trực tuyến:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C21/231.pdf
Định dạng: Điện tử Chương của sách
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=606977

Internet

http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C21/231.pdf

Những quyển sách tương tự