• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Erweitert
  • A new model of the barrier eff...
  • Zitieren
  • SMS versenden
  • Als E-Mail versenden
  • Drucken
  • Datensatz exportieren
    • Exportieren nach RefWorks
    • Exportieren nach EndNoteWeb
    • Exportieren nach EndNote
  • Persistenter Link
A new model of the barrier effect in dielectrics; 18th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 03)

A new model of the barrier effect in dielectrics; 18th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 03)

Bibliographische Detailangaben
Parent link:18th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 03).— 2003.— P. 235-242
Weitere Verfasser: Gefle O. S., Lebedev S. M., Karpov S. A., Pokholkov Y. P. Yuri Petrovich
Zusammenfassung:В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2003
Schlagworte:
труды учёных ТПУ
Format: Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=595519
  • Exemplare
  • Beschreibung
  • Ähnliche Einträge
  • Internformat

Ähnliche Einträge

  • Breakdown of multilayer polyfilm insulation; 18th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 03)
    Veröffentlicht: (2003)
  • The discharge development in three-layer solid dielectrics; 17th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 01)
    Veröffentlicht: (2001)
  • Filled 0-3 composites for HV cables; 16th Nordic Insulation Symosium (NORD-IS 99)
    Veröffentlicht: (1999)
  • The barrier effect in dielectrics: the role of interfaces in the breakdown of inhomogeneous dielectrics; IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation; Vol. 12, № 3
    von: Lebedev S. M.
    Veröffentlicht: (2005)
  • Barrier effect in dielectrics; Proceedings of the 6th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials (Xi'an, China, June 21-26, 2000)
    Veröffentlicht: (2000)