Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа, Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»

Bibliographic Details
Parent link:	Наноматериалы для радиоэлектронных средств. / Малышев К. В.,Башков В. М.,Мешков С. А.. Ч. 2
Main Author:	Малышев К. В.
Other Authors:	Башков В. М., Мешков С. А.
Summary:	В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей. Книга из коллекции МГТУ им. Н.Э. Баумана - Инженерно-технические науки
Published:	Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007
Subjects:	теоретическая часть расчетная часть экспериментальная часть контрольные вопросы измерение спектра электронных состояний наноматериалы стм измерение эффективной работы выхода квазижидкие нанослои измерение шумовых и фрактальных характеристик
Online Access:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=58380 https://e.lanbook.com/img/cover/book/58380.jpg
Format:	Electronic Book

Description
Physical Description:	42 с.
Summary:	В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей. Книга из коллекции МГТУ им. Н.Э. Баумана - Инженерно-технические науки

Similar Items