Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа, Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
| Parent link: | Наноматериалы для радиоэлектронных средств. / Малышев К. В.,Башков В. М.,Мешков С. А.. Ч. 2 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | , |
| Zusammenfassung: | В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей. Книга из коллекции МГТУ им. Н.Э. Баумана - Инженерно-технические науки |
| Veröffentlicht: |
Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=58380 https://e.lanbook.com/img/cover/book/58380.jpg |
| Format: | Elektronisch Buch |
