Малышев К. В., Скороходов Е. А., & Башков В. М. (2007). Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств». Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007.
Chicago Style (17th ed.) CitationМалышев К. В., Скороходов Е. А., and Башков В. М. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств». Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007, 2007.
MLA (9th ed.) CitationМалышев К. В., et al. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств». Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007, 2007.