Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
| Parent link: | Наноматериалы для радиоэлектронных средств.. / Малышев К. В.,Скороходов Е. А.,Башков В. М.. Ч. 1 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | , |
| Summary: | В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей. Книга из коллекции МГТУ им. Н.Э. Баумана - Инженерно-технические науки |
| Published: |
Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=58379 https://e.lanbook.com/img/cover/book/58379.jpg |
| Format: | Electronic Book |
