• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Методы определения основных па...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие

Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Павлов Л. П. Лев Павлович
Language:Russian
Published: Москва, Высшая школа, 1975
Subjects:
полупроводники
полупроводниковые материалы
параметры
измерения
эффект Холла
неравновесные носители
фотопроводимость
учебные пособия
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56054
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник
    by: Павлов Л. П. Лев Павлович
    Published: (Москва, Высшая школа, 1987)
  • Фотоэлектрические явления в полупроводниках
    by: Рывкин С. М. Соломон Меерович
    Published: (Москва, Физматгиз, 1963)
  • Высокоомные фотопроводящие полупроводники
    Published: (Ленинград, Изд-во ЛПИ, 1968)
  • Фотоэлектрические процессы в полупроводниках: учебное пособие для вузов
    by: Сердюк В. В. Виктор Владимирович
    Published: (Киев, Вища школа, 1982)
  • Методы измерения основных параметров полупроводников: учебное пособие для вузов
    by: Рембеза С. И. Станислав Иванович
    Published: (Воронеж, Изд-во Воронеж. ун-та, 1989)