Плотнометрический альбедный метод контроля толщины покрытий моноэнергетическими электронами
| Parent link: | Дефектоскопия/ Российская академия наук ; Отделение физических наук РАН.— , 1965- № 5.— 1981.— С. 89-94 |
|---|---|
| Hlavní autor: | |
| Jazyk: | ruština |
| Vydáno: |
1981
|
| Edice: | Радиационные методы |
| Témata: | |
| Médium: | Kapitola |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=543680 |
| Žádný popis. |