Плотнометрический альбедный метод контроля толщины покрытий моноэнергетическими электронами; Дефектоскопия; № 5
| Parent link: | Дефектоскопия/ Российская академия наук ; Отделение физических наук РАН.— , 1965- № 5.— 1981.— С. 89-94 |
|---|---|
| 主要作者: | |
| 語言: | 俄语 |
| 出版: |
1981
|
| 叢編: | Радиационные методы |
| 主題: | |
| 格式: | Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=543680 |
| 無描述. |