Плотнометрический альбедный метод контроля толщины покрытий моноэнергетическими электронами
| Parent link: | Дефектоскопия/ Российская академия наук ; Отделение физических наук РАН.— , 1965- № 5.— 1981.— С. 89-94 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Language: | Russian |
| Published: |
1981
|
| Series: | Радиационные методы |
| Subjects: | |
| Format: | Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=543680 |