Исследование воздействия малых доз γ-квантов на структуры GaAs+SiO2 методом резерфордовского обратного рассеяния каналированных ионов; Известия вузов. Физика; т. 28, № 10

Исследование воздействия малых доз γ-квантов на структуры GaAs+SiO2 методом резерфордовского обратного рассеяния каналированных ионов

Dades bibliogràfiques
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-
т. 28, № 10.— 1985.— С. 123
Altres autors: Боярко Е. Ю., Кощеев В. П., Тимошников Ю. А., Чернов И. П. Иван Петрович
Idioma:rus
Publicat: 1985
Matèries:
труды учёных ТПУ
Format: Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=494049

Ítems similars