APA (7th ed.) Citation

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Шевелев М. В. Михаил Викторович, Попов Ю. А., & Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич. (2009). Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Шевелев М. В. Михаил Викторович, Попов Ю. А., and Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич. Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009, 2009.

MLA (9th ed.) Citation

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, et al. Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009, 2009.