Cita APA

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Шевелев М. В. Михаил Викторович, Попов Ю. А., & Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич. (2009). Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009.

Citación estilo Chicago

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Шевелев М. В. Михаил Викторович, Попов Ю. А., and Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич. Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009, 2009.

Cita MLA

Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, et al. Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 52, № 11/2 (приложение). 2009, 2009.