Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения

Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения

Bibliographic Details
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-
Т. 52, № 11/2 (приложение).— 2009.— С. 254-260
Other Authors: Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Шевелев М. В. Михаил Викторович, Попов Ю. А., Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич
Language:Russian
Published: 2009
Subjects:
труды учёных ТПУ
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=491467

Similar Items