Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 53, № 10/2 (приложение)

Bibliografiska uppgifter
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-.— 0021-3411
Т. 53, № 10/2 (приложение).— 2010.— С. 139-145
Övriga upphovsmän: Галимов Р. М. Руслан Маликович, Тимченко Н. А. Николай Алексеевич, Чернов И. П. Иван Петрович, Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Крысина О. В., Слободский Т. Тарас, Коваль Н. Н. Николай Николаевич
Sammanfattning:Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур.
Språk:ryska
Publicerad: 2010
Ämnen:
Materialtyp: Bokavsnitt
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=491399

Liknande verk