Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 53, № 10/2 (приложение)
| Источник: | Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-.— 0021-3411 Т. 53, № 10/2 (приложение).— 2010.— С. 139-145 |
|---|---|
| Другие авторы: | , , , , , , |
| Примечания: | Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур. |
| Язык: | русский |
| Опубликовано: |
2010
|
| Предметы: | |
| Формат: | Статья |
| Запись в KOHA: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=491399 |