Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения

Detalles Bibliográficos
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-.— 0021-3411
Т. 53, № 10/2 (приложение).— 2010.— С. 139-145
Outros autores: Галимов Р. М. Руслан Маликович, Тимченко Н. А. Николай Алексеевич, Чернов И. П. Иван Петрович, Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Крысина О. В., Слободский Т. Тарас, Коваль Н. Н. Николай Николаевич
Summary:Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур.
Idioma:ruso
Publicado: 2010
Subjects:
Formato: Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=491399

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 491399
005 20250917071652.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\prd\160374 
090 |a 491399 
100 |a 20121127a2010 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения  |f Р. М. Галимов [и др.] 
330 |a Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур. 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\191  |x 0021-3411  |t Известия вузов. Физика  |f Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет  |d 1958- 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\126661  |t Т. 53, № 10/2 (приложение)  |v С. 139-145  |d 2010 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
701 1 |a Галимов  |b Р. М.  |c физик  |c ассистент кафедры Томского политехнического университета  |f 1989-  |g Руслан Маликович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29640 
701 1 |a Тимченко  |b Н. А.  |c российский физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |g Николай Алексеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28152 
701 1 |a Чернов  |b И. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1935-2025  |g Иван Петрович  |x TPU  |y Томск  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\12909  |9 3694 
701 1 |a Иванов  |b Ю. Ф.  |c российский ученый, специалист в области наноматериалов и нанотехнологий  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |c ведущий научный сотрудник Института сильноточной электроники СО РАН  |f 1955-  |g Юрий Федорович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28208 
701 1 |a Крысина  |b О. В. 
701 1 |a Слободский  |b Т.  |g Тарас 
701 1 |a Коваль  |b Н. Н.  |c специалист в области электроники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1948-  |g Николай Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31831 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20121127 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160411  |g RCR 
942 |c BK