Bibliographic Details
| Parent link: | Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-.— 0021-3411
Т. 53, № 10/2 (приложение).— 2010.— С. 139-145 |
|---|
| Other Authors: |
Галимов Р. М. Руслан Маликович,
Тимченко Н. А. Николай Алексеевич,
Чернов И. П. Иван Петрович,
Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович,
Крысина О. В.,
Слободский Т. Тарас,
Коваль Н. Н. Николай Николаевич |
|---|
| Summary: | Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного и рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур. |
|---|
| Language: | Russian |
|---|
| Published: |
2010
|
|---|
| Subjects: | |
|---|
| Format: | Book Chapter
|
|---|
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=491399 |
|---|
