Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках

Bibliografske podrobnosti
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-
Т. 26, № 8.— 1983.— С. 117-118
Drugi avtorji: Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., Федоров В. А.
Jezik:ruščina
Izdano: 1983
Teme:
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=484070

Podobne knjige/članki