Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках
| Parent link: | Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958- Т. 26, № 8.— 1983.— С. 117-118 |
|---|---|
| Other Authors: | , , , |
| Language: | Russian |
| Published: |
1983
|
| Subjects: | |
| Format: | Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=484070 |