Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:	Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958- Т. 26, № 8.— 1983.— С. 117-118
অন্যান্য লেখক:	Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., Федоров В. А.
ভাষা:	রুশ
প্রকাশিত:	1983
বিষয়গুলি:	труды учёных ТПУ
বিন্যাস:	গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=484070

MARC


LEADER	00000naa2a2200000 4500
001	484070
005	20231225161343.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\prd\151667
035			\|a RU\TPU\prd\151666
090			\|a 484070
100			\|a 20120913a1983 k y0rusy50 ca
101	0		\|a rus
102			\|a RU
200	1		\|a Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках \|f К. П. Арефьев [и др.]
320			\|a Библиогр.: с. 118 (10 назв.)
461		0	\|0 (RuTPU)RU\TPU\prd\191 \|t Известия вузов. Физика \|f Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет \|d 1958-
463		0	\|0 (RuTPU)RU\TPU\prd\76917 \|t Т. 26, № 8 \|v С. 117-118 \|d 1983
610	1		\|a труды учёных ТПУ
701		1	\|a Арефьев \|b К. П. \|c физик \|c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук \|c член-корреспондент РАЕН \|f 1947- \|g Константин Петрович \|3 (RuTPU)RU\TPU\pers\19765 \|4 070 \|9 7703
701		1	\|a Прилипко \|b В. И.
701		1	\|a Прокопьев \|b Е. П.
701		1	\|a Федоров \|b В. А.
801		1	\|a RU \|b 63413507 \|c 20120913
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20120913 \|g RCR
942			\|c BK