Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., & Федоров В. А. (1983). Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках; Известия вузов. Физика; Т. 26, № 8. 1983.
Chicago-referens (17:e uppl.)Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., och Федоров В. А. Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках; Известия вузов. Физика; Т. 26, № 8. 1983, 1983.
MLA-referens (9:e uppl.)Арефьев К. П. Константин Петрович, et al. Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках; Известия вузов. Физика; Т. 26, № 8. 1983, 1983.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.