APA (7th ed.) Citation

Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., & Федоров В. А. (1983). Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках. 1983.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Арефьев К. П. Константин Петрович, Прилипко В. И., Прокопьев Е. П., and Федоров В. А. Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках. 1983, 1983.

MLA (9th ed.) Citation

Арефьев К. П. Константин Петрович, et al. Применение метода аннигиляции позитронов для определения параметров точечных дефектов в полупроводниках. 1983, 1983.