Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов; Вестник науки Сибири; № 1 (2)

Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов; Вестник науки Сибири; № 1 (2)

Detalles Bibliográficos
Parent link:Вестник науки Сибири: электронный научный журнал/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2011-.— 2226-0064
№ 1 (2).— 2012.— [С. 126-133]
Otros Autores: Афанасьев М. С. Михаил Сергеевич, Буров А. В. Анатолий Владимирович, Егоров В. К. Владимир Константинович, Лучников П. А. Петр Александрович, Чучева Г. В. Галина Викторовна
Sumario:Заглавие с титульного листа
Проведены исследования тонких перовскитных пленок барий-стронциевого титаната (Ba1-xSrxTiO3) на монокристаллических подложках типа Si [100], MgO [100] и NdGaO3 [100] методом резерфордовского обратного рассеяния (РОР) ионов гелия и рентгенофлуоресцентного анализа при полном внешнем отражении потока возбуждения. Рассмотрены особенности метода РОР-спектроскопии и его ожидаемое следствие при анализе тонких перовскитных пленок Ba1-xSrxTiO3 на различных типах монокристаллических подложек. Определена степень их элементной неоднородности по толщине и степень диффузионного загрязнения атомами подложек.
Lenguaje:ruso
Publicado: 2012
Colección:Инженерные науки
Materias:
физика
перовскиты
тонкие пленки
РОР-спектроскопия
особенности
ионопучковая диагностика
резерфордовское обратное рассеяние
сегнетоэлектрические пленки
оксид магния
барий
стронций
титан
электронный ресурс
Acceso en línea:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961
Formato: Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=478738

Ejemplares similares

Ejemplares similares