Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов; Вестник науки Сибири; № 1 (2)
| Parent link: | Вестник науки Сибири: электронный научный журнал/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2011-.— 2226-0064 № 1 (2).— 2012.— [С. 126-133] |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | , , , , |
| সংক্ষিপ্ত: | Заглавие с титульного листа Проведены исследования тонких перовскитных пленок барий-стронциевого титаната (Ba1-xSrxTiO3) на монокристаллических подложках типа Si [100], MgO [100] и NdGaO3 [100] методом резерфордовского обратного рассеяния (РОР) ионов гелия и рентгенофлуоресцентного анализа при полном внешнем отражении потока возбуждения. Рассмотрены особенности метода РОР-спектроскопии и его ожидаемое следствие при анализе тонких перовскитных пленок Ba1-xSrxTiO3 на различных типах монокристаллических подложек. Определена степень их элементной неоднородности по толщине и степень диффузионного загрязнения атомами подложек. |
| ভাষা: | রুশ |
| প্রকাশিত: |
2012
|
| মালা: | Инженерные науки |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961 |
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায় |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=478738 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 478738 | ||
| 005 | 20231101093201.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\prd\145580 | ||
| 035 | |a RU\TPU\prd\145578 | ||
| 090 | |a 478738 | ||
| 100 | |a 20120702d2012 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drnn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов |f М. С. Афанасьев [и др.] | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 215 | |a 1 файл (983 Кб) | ||
| 225 | 1 | |a Инженерные науки | |
| 230 | |a Электронные текстовые данные (1 файл : 983 Кб) | ||
| 300 | |a Заглавие с титульного листа | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 133 (12 назв.)] | ||
| 330 | |a Проведены исследования тонких перовскитных пленок барий-стронциевого титаната (Ba1-xSrxTiO3) на монокристаллических подложках типа Si [100], MgO [100] и NdGaO3 [100] методом резерфордовского обратного рассеяния (РОР) ионов гелия и рентгенофлуоресцентного анализа при полном внешнем отражении потока возбуждения. Рассмотрены особенности метода РОР-спектроскопии и его ожидаемое следствие при анализе тонких перовскитных пленок Ba1-xSrxTiO3 на различных типах монокристаллических подложек. Определена степень их элементной неоднородности по толщине и степень диффузионного загрязнения атомами подложек. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 461 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\143680 |x 2226-0064 |t Вестник науки Сибири |o электронный научный журнал |f Томский политехнический университет (ТПУ) |d 2011- | |
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\145194 |t № 1 (2) |v [С. 126-133] |d 2012 | |
| 610 | 1 | |a физика | |
| 610 | 1 | |a перовскиты | |
| 610 | 1 | |a тонкие пленки | |
| 610 | 1 | |a РОР-спектроскопия | |
| 610 | 1 | |a особенности | |
| 610 | 1 | |a ионопучковая диагностика | |
| 610 | 1 | |a резерфордовское обратное рассеяние | |
| 610 | 1 | |a сегнетоэлектрические пленки | |
| 610 | 1 | |a оксид магния | |
| 610 | 1 | |a барий | |
| 610 | 1 | |a стронций | |
| 610 | 1 | |a титан | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 675 | |a 537.226 |v 3 | ||
| 701 | 1 | |a Афанасьев |b М. С. |g Михаил Сергеевич | |
| 701 | 1 | |a Буров |b А. В. |g Анатолий Владимирович | |
| 701 | 1 | |a Егоров |b В. К. |g Владимир Константинович | |
| 701 | 1 | |a Лучников |b П. А. |g Петр Александрович | |
| 701 | 1 | |a Чучева |b Г. В. |g Галина Викторовна | |
| 801 | 1 | |a RU |b 63413507 |c 20090623 |g PSBO | |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20180115 |g PSBO | |
| 856 | 4 | |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961 | |
| 942 | |c BK | ||