Рабинович О. И. & Крутогин Д. Г. (2013). Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Москва, МИСИС, 2013.
Chicago Style (17th ed.) CitationРабинович О. И. and Крутогин Д. Г. Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Москва, МИСИС, 2013, 2013.
MLA (9th ed.) CitationРабинович О. И. and Крутогин Д. Г. Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Москва, МИСИС, 2013, 2013.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.