Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация

Bibliographic Details
Main Author: Бублик В. Т.
Other Authors: Щербачев К. Д., Воронова М. И., Мильвидский А. М.
Summary:Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов».
Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки
Published: Москва, МИСИС, 2013
Subjects:
дифрактометрия высокого разрешения
ионная имплантация
рентгеновская дифрактометрия
Online Access:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=47458
https://e.lanbook.com/img/cover/book/47458.jpg
Format: Electronic Book

Similar Items

Similar Items