Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| الملخص: | Рекомендовано редакционно-издательским советом университета В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов». Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| منشور في: |
Москва, МИСИС, 2013
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=47458 https://e.lanbook.com/img/cover/book/47458.jpg |
| التنسيق: | الكتروني كتاب |
MARC
| LEADER | 00000nam0a2200000 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 47458 | ||
| 010 | |a 978-5-87623-695-1 | ||
| 100 | |a 20200604d2013 k y0rusy01020304ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 106 | |a z | ||
| 200 | 1 | |a Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация |b Электронный ресурс |f Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И., Мильвидский А. М. | |
| 210 | |a Москва |b Москва |c МИСИС |d 2013 | ||
| 215 | |a 67 с. | ||
| 300 | |a Рекомендовано редакционно-издательским советом университета | ||
| 330 | |a В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов». | ||
| 333 | |a Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки | ||
| 610 | 0 | |a дифрактометрия высокого разрешения | |
| 610 | 0 | |a ионная имплантация | |
| 610 | 0 | |a рентгеновская дифрактометрия | |
| 675 | |a 621.318 | ||
| 686 | |a В372 |2 rubbk | ||
| 700 | 1 | |a Бублик |b В. Т. | |
| 701 | 1 | |a Щербачев |b К. Д. | |
| 701 | 1 | |a Воронова |b М. И. | |
| 701 | 1 | |a Мильвидский |b А. М. | |
| 801 | 1 | |a RU |b Издательство Лань |c 20200604 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=47458 | |
| 856 | 4 | 1 | |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/47458.jpg |
| 953 | |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/47458.jpg | ||