MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 46021
005 20231031024259.0
010 |a 5020249637 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\47931 
090 |a 46021 
100 |a 20021219d2002 k y0rusy50 ca 
101 1 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография  |e пер. с англ.  |f Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер  |g Под ред. И. Л. Шульпиной 
210 |a СПб.  |c Наука  |d 2002 
215 |a 274 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр. в конце гл. 
320 |a Предм. указ.: с. 271-274. 
610 1 |a материаловедение 
610 1 |a электронная техника 
610 1 |a материалы 
610 1 |a структура 
610 1 |a контроль 
610 1 |a исследование 
610 1 |a рентгеновская диагностика 
610 1 |a рентгеновские методы 
610 1 |a топография 
610 1 |a дифрактометрия 
610 1 |a рентгеновские лучи 
610 1 |a рассеяние 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a многослойные системы 
610 1 |a анализ 
610 1 |a синхротронное излучение 
675 |a 620.179.152  |v 3 
700 1 |a Боуэн  |b Д. К. 
701 1 |a Таннер  |b Б. К. 
702 1 |a Шульпина  |b И. Л.  |4 340 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20021219  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20091211  |g PSBO 
900 |a Рентгеновские методы анализа 
942 |c BK