Skip to content
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
מתקדם
  • Высокоразрешающая рентгеновска...
  • יצירת מראה מקום
  • שליחה במסרון
  • שלח את זה
  • הדפסה
  • יצוא רשומה
    • יצוא אל RefWorks
    • יצוא אל EndNoteWeb
    • יצוא אל EndNote
  • Permanent link
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография пер. с англ.

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография пер. с англ.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Боуэн Д. К.
מחברים אחרים: Таннер Б. К. (340), Шульпина И. Л.
שפה:רוסית
יצא לאור: СПб., Наука, 2002
נושאים:
материаловедение
электронная техника
материалы
структура
контроль
исследование
рентгеновская диагностика
рентгеновские методы
топография
дифрактометрия
рентгеновские лучи
рассеяние
тонкие пленки
многослойные системы
анализ
синхротронное излучение
פורמט: ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=46021
  • מלאי ספרים
  • תיאור
  • פריטים דומים
  • תצוגת צוות

פריטים דומים

  • Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
    מאת: Суржиков А. П. Анатолий Петрович
    יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2014)
  • Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов
    מאת: Хейкер Д. М. Даниэль Моисеевич
    יצא לאור: (Ленинград, Машиностроение, 1973)
  • Рентгеновская кристаллооптика
    מאת: Пинскер З. Г. Зиновий Григорьевич
    יצא לאור: (Москва, Наука, 1982)
  • Amorphization of Degussa nanosized TiO2 caused by its modification
    יצא לאור: (2018)
  • Рентгеновская оптика сборник статей
    יצא לאור: (Москва, Наука, 1989)