Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника; Журнал технической физики; Т. 72, вып. 2

Chi tiết về thư mục
Parent link:	Журнал технической физики/ Российская академия наук (РАН), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ).— , 1931-.— 0044-4642 Т. 72, вып. 2.— 2002.— с. 84-87
Tác giả khác:	Кузьменко Р. В., Ганжа А. В., Домашевская Э. П., Рясной П. В.
Ngôn ngữ:	Tiếng Nga
Được phát hành:	2002
Loạt:	Оптика, квантовая электроника
Những chủ đề:	фотоотражательные измерения фотолюминесцентные измерения исследования полупроводники лазерное излучение
Định dạng:	Chương của sách
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=438660

Những quyển sách tương tự