Исследование угловых распределений мягкой компоненты излучения релятивистских электронов вблизи плоскостной ориентации монокристаллов большой толшины

Bibliographic Details
Parent link:Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-
Т. 33, № 6.— 1991.— С. 70-80
Other Authors: Амосов К. Ю., Андреяшкин М. Ю., Внуков И. Е., Калинин Б. Н., Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Сырычев В. П.
Summary:На Томском синхротроне проведено экспериментальное исследование мягrой компоненты излучения релятивистских электронов в моно­кристаллах алмаза, кремния и вольфрама. Показано, что за счет угловой се­лекции может быть выделена компонента излучения, связанная с каналированным излучением электронов, захваченных в этот режим движения внутри кристалла. Обнаружено, что линейная плотность излучения электронов, кото­рые должны быть захвачены в режим плоскостного каналирования внутри кристалла вследствие многократного рассеяния, существенно подавлена по сравнению с линейной плотностью излучения электронов, захваченных в этот режим движения в приповерхностном слое кристалла. Показано, что эффект "квазипреломления" электронного пучка потенциалом плоскости в толстых мо­нокристаллах приводит к "эффективному отражению" электронов.
Published: 1991
Subjects:
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=424732