Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Korporativní autor: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Další autoři: Несмелов Н. С. (научный руководитель)
Jazyk:ruština
Vydáno: Томск, 2002
Témata:
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41524

Podobné jednotky