Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов, диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07

Bibliographic Details
Main Author:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Corporate Author:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Other Authors:	Несмелов Н. С. (727)
Language:	Russian
Published:	Томск, 2002
Subjects:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика диссертации
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41524

Similar Items