Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Autor corporatiu:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Altres autors:	Несмелов Н. С. (научный руководитель)
Idioma:	rus
Publicat:	Томск, 2002
Matèries:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика диссертации
Format:	MixedMaterials Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=41524

Ítems similars