|
|
|
|
| LEADER |
00000nbm0a2200000 4500 |
| 001 |
41524 |
| 005 |
20231101210706.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\42650
|
| 090 |
|
|
|a 41524
|
| 100 |
|
|
|a 20020624j2002mmddk y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a dm 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов
|e диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07
|f С. Г. Еханин
|g Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники; Научн. конс.: Н. С. Несмелов
|
| 210 |
|
|
|a Томск
|d 2002
|
| 215 |
|
|
|a 304 л.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 242-259.
|
| 606 |
1 |
|
|a Щелочно-галоидные кристаллы
|x Дефекты
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\80319
|9 88044
|
| 610 |
1 |
|
|a кристаллография
|
| 610 |
1 |
|
|a микронные слои
|
| 610 |
1 |
|
|a электрическая прочность
|
| 610 |
1 |
|
|a электрические поля
|
| 610 |
1 |
|
|a кинетика
|
| 610 |
1 |
|
|a диссертации
|
| 675 |
|
|
|a 548.4(04)
|v 3
|
| 686 |
|
|
|a 01.04.07
|2 oksvnk
|
| 700 |
|
1 |
|a Еханин
|b С. Г.
|g Сергей Георгиевич
|
| 702 |
|
1 |
|a Несмелов
|b Н. С.
|4 727
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\422
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20020624
|g PSBO
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20230628
|g PSBO
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
